Техника и решенија

01 Граници на изведба на CVD SiC, TaC и цврсти SiC во процесите на епитаксија и офорт

Индустрија

Производство на полупроводници, техничка керамика (епитаксија / офорт / раст на кристали PVT)

Процес

GaN MOCVD, SiC епитаксија, SiC PVT раст на кристалите, плазма офорт

Решение

Графитна подлога со висока чистота + сенцептор обложен со CVD SiC/TaC, прстен за предзагревање, прстен за пренасочување, полумесечина, прстен за фокусирање; Цврсти SiC компоненти

Услуги

Приспособување врз основа на цртеж 1:1, евалуација на примероци, чистење и регенерација на облогата, извештаи за инспекција GDMS/ICP-OES, техничка поддршка 24/7, меѓународна логистика

Резултати

• Чистотата на облогата може да биде помала од 5 ppm, некои достигнуваат 99,99995%

• Еднообразноста на дебелината контролирана во рамките на ±5%, типична дебелина 100–200 μm

• Животниот век на сензорот за графит е продолжен на опсег од 500–1000 часа под процесот GaN MOCVD

• Износот на облогата се подобри од 50% на 90% по решавањето на проблемот со пожолтувањето на рабовите (внатрешно куќиште)

• Поддржува замена 1:1 за главните платформи вклучувајќи ги Aixtron G10, Veeco, ASM, AMEC, TEL

Основен заклучок:Изборот на вистинската CVD SiC, TaC облога или Solid SiC директно ги одредува нивоата на честички и животниот век на компонентите на линиите за епитаксија/офорт. Оваа статија обезбедува јасни граници за избор според температурата, атмосферата и процесот, усогласени со главните решенија за замена на опремата и клучните метрики, за да ви помогнат да донесувате брзи одлуки и да го намалите ризикот.

Во процесите на GaN MOCVD, сензорите обложени со SiC врз основа на графит можат вообичаено да работат стабилно стотици часа на 1100°C под NH3/H2 атмосфера; сепак, поради нерамномерноста на топлинското поле, разликите во работниот век на облогата помеѓу рабовите и централните региони може да надминат 50%. Во процесите на раст на кристалот на SiC PVT, кога температурата надминува 1600°C, облогата на SiC почнува да се возвишува и се распаѓа, барајќи префрлување на TaC облога или раствори на цврсти SiC. Последиците од изборот на погрешен компонентен материјал - во најдобар случај, замена на потрошен материјал на секои 2-3 месеци; во најлош случај, отпад од цела печка наполитанки поради контаминација со честички. Оваа статија е напишана од техничкиот тим на VeTek Semiconductor (под раководство на д-р Xiao), со цел да се воспостави систематска рамка за одлучување за „модел на опрема → услови на процесот → избор на компоненти → очекување за животниот век“ за инженерите за епитаксии/офорт/PVT, што ќе ви помогне брзо да ги усогласите материјалите, да ги контролирате честичките и да ги оценувате добавувачите.

1. Како да изберете SiC слој, TaC облога или цврст SiC врз основа на условите на процесот?

Основен заклучок:Одлучете за трите димензии „температура → атмосфера → тип на процес“: дајте приоритет на CVD SiC облогата на ≤1600°C; изберете TaC за >2000°C или силно корозивни атмосфери; дадете приоритет на Solid SiC за сценарија за офорт и ултра висока чистота.

Кога прават вистински избор на производна линија, инженерите најчесто прашуваат: „За мојата опрема Aixtron/Veeco, со GaN или SiC епитаксија, на која температура и под која атмосфера, кој слој треба да го користам? Одговорот не е комплициран, но трите димензии треба да се поврзат заедно.

Прозорецот за температура е првиот праг

CVD SiC облогата сè уште може да го одржува структурниот интегритет под приближно 2000–2100°C. Надвор од овој опсег, се случува неусогласено испарување (преференцијално испарување на силиконот), што доведува до грубост на површината и зголемени честички. TaC облогата има точка на топење до 3880°C и може да одржува екстремно низок притисок на пареа дури и во средини со раст на PVT кристали над 2400°C. Цврстиот SiC нема проблеми со интерфејсот на облогата-подлогата и е погоден за офортување на компонентите на комората што се предмет на повторен термички шок.

Атмосферата и корозивноста ја одредуваат хемиската стабилност на облогата

Во средини кои содржат NH3, H2 или гасови базирани на хлор, SiC облогата работи добро, но стапката на корозија на SiC со водород со висока температура е значително повисока од онаа на TaC. Експерименталните податоци покажуваат дека стапката на корозија на TaC во високотемпературниот амонијак е околу 1/6 од SiC, а во водородот може да биде дури и 1/10. Затоа, стандардните услови за SiC епитаксија или GaN MOCVD најчесто користат SiC облога, додека сценаријата со висока корозија или ултра-висока температура мора да се префрлат на TaC.

Тип на процес и совпаѓање на функцијата на компонентите

• GaN MOCVD / Si епитаксија: даде приоритет на графит со висока чистота + CVD SiC обложен сусцептор, прстен за предзагревање

• Растење на кристалот на SiC PVT: Силно препорачуваме облога со TaC за компонентите во топла зона од графит

• Плазма офорт (фокус прстен, итн.): Цврст SiC или графит обложен со SiC се можни, во зависност од барањата за честички и трошоците

• Критичните делови во комората екстремно чувствителни на честички: Дајте приоритет на цврстиот SiC без интерфејс без облога


Слика 1 – Изложба на главен производ на VeTek

2. Компатибилност на Aixtron/Veeco графит сусцептор и решенија за приспособена замена

Основен заклучок:VeTek поддржува прилагодување 1:1 врз основа на цртежи на клиентите или оригинални резервни делови, покривајќи ги главните платформи како Aixtron G10, Veeco K465i, ASM Epsilon итн. Стандардните производи може брзо да се испорачуваат; прилагодените делови обично траат 3-6 недели.

Она за што најмногу се грижат многу инженери не е „дали може да се направи“, туку „дали може да биде стабилен како оригиналните делови, со контролирано време на производство и достапни целосни извештаи за инспекција“. Една од основните способности на VeTek е целосното прилагодување според цртежите, додека останува компатибилен со главните брендови на опрема.

Брза референца за компатибилност со главната опрема

Табелата подолу може да се користи директно за внатрешен технички преглед или евалуација на набавките:

Марка на опрема

Типичен модел

Заменливи делови

Опција за подлога

Опција за обложување

Уп. Доживотно

Екстрон

Г10

Подложен, прстен за предзагревање

Графит со висока чистота

SiC

500–1000 ч

Вееко

K465i

Сусцептор, прстен за пренасочување

Графит со висока чистота

SiC/TaC

300–800 ч

ASM

Серија ипсилон

Подложен, Фокус прстен

Цврст SiC

Без облога

2000+ ч

AMEC

Етчер

Фокус прстен, полумесечина

Цврст SiC/графит

SiC

По процес

Во реалните проекти, често добиваме оригинални резервни делови или ЦММ цртежи од клиенти. Техничкиот тим, откако ќе го потврди совпаѓањето на термичките полиња и толеранциите на димензиите, ќе обезбеди препораки за чистотата на подлогата, дебелината на облогата и грубоста на површината и ќе обезбеди примероци за проверка на алатот од клиентите.

3. Клучни метрики за униформност на дебелината на облогата на CVD SiC и контрола на честички

Основен заклучок:Еднообразноста на дебелината контролирана во рамките на ± 5%, густината блиску до теоретската вредност и контролираната грубост на површината се јадрото за сузбивање на фрлањето прашок и контаминацијата со честички. Целта на чистотата е под 5 ppm, со критичните метални нечистотии следени од GDMS/ICP-OES.

Проблемите со честичките се речиси ноќна мора на секој инженер за епитаксии. Штом облогата ќе има локални тенки дамки, пори или микро-пукнатини, прашокот ќе се истури под повторен термички циклус и напад на корозивни гасови, директно зголемувајќи ја густината на дефектот на обландата.

Дебелина и униформност

Типичната дебелина на CVD SiC облогата е 100-200 μm. Преку процесниот параметар и контролата на полето на проток, VeTek ја стабилизира униформноста на дебелината во рамките на ± 5%. По повеќе од 1000 циклуси на термички шок (собна температура ↔ 1100°C), облогата не покажува раслојување и може да ги исполни строгите барања GaN MOCVD за дефекти на честички ≤0,1/cm².

Чистота и инспекција

Целокупната чистота на облогата и компонентите може да биде помала од 5 ppm, при што некои производи достигнуваат 99,99995%. Ние користиме ICP-OES и GDMS за анализа на метали во трагови за да се осигураме дека критичните нечистотии како што се Fe и Ni остануваат на контролирани нивоа, избегнувајќи мешање со допингот на епитаксијалниот слој или концентрацијата на носачот.

Густина и состојба на површината

Поликристалниот слој β-SiC формиран со CVD процесот има густина блиска до теоретската вредност (приближно 3,21 g/cm³) со исклучително мала порозност. Грубоста на површината (Ra) може да се прилагоди според барањата на процесот на клиентите, обезбедувајќи доволно механичко испреплетување, а истовремено избегнувајќи да стане извор на генерирање честички.


Слика 2 – Извештај за инспекција на GDMS за CVD SiC облога

4. Студија на случај: Решавање на пожолтување на рабовите за да се подобри приносот на облогата од 50% до 90%

Основен заклучок:Со прецизно контролирање на почетната стапка на таложење и полето на проток за да се елиминира микро-стресот, VeTek го подобри приносот на облогата на MOCVD графитниот сензор на клиентот од околу 50% на 90%, и значително го продолжи работниот век.

Ова е вистинска приказна која се случила на производната линија. Клиентот пријавил пожолтување на рабовите и тенденција за лупење на некои графитни сензори, што предизвикува целокупниот принос на облогата на серијата да лебди околу 50% долго време, со високи трошоци за одржување на линијата и ризик од нафора.

Откако интервенираше техничкиот тим предводен од д-р Ксијао, беа фокусирани на две насоки: прво, стапката на таложење во почетната фаза беше пребрза, предизвикувајќи внатрешна акумулација на стрес во облогата; второ, разликите во полето на проток помеѓу рабовите и централните региони доведоа до локална прекумерна или помала дебелина. Со оптимизирање на односот MTS/H2, температурниот профил на таложење и дизајнот на полето за проток на тела, микро-стресот беше ефикасно ослободен. На крајот, приносот на облогата на таа серија и последователното производство се стабилизираа над 90%, циклусот на замена на клиентите беше јасно продолжен, а поплаките за честички значително се намалија.

Овој случај покажува: „да се биде способен да се премачка“ е само почетна точка; „стабилно обложување, долготрајно и контролирање на честичките“ е вистинската вредност за која се грижат инженерите. Податоците зборуваат погласно од која било промоција.

     

Слика 3 – ЦВД со висока чистота, обложена со силикон карбид, обложена графит суцептор со униформа боја на површината и без дефекти

5. Разлики помеѓу цврстиот SiC и обложените графитни делови и применливите сценарија

Основен заклучок:Обложените графитни делови имаат пониска цена и побрз термички одговор, погодни за повеќето епитаксии; Цврстиот SiC нема ризик од интерфејс и посилен плазма отпор, погоден за компоненти за офорт со високи барања и сценарија со ултра долг животен век.

Многу состаноци за избор се борат со: дали треба да користиме обложен графит или да одиме директно на Solid SiC? Двете не се само за „што е подобро“, туку за компромис помеѓу сценариото за апликација и вкупните трошоци на сопственост (TCO).

Предности на обложени графитни делови:Висока топлинска спроводливост на подлогата, брзо загревање, контролирана цена; облогата обезбедува хемиска бариера и потиснување на честичките. Погоден за епитаксии со големи димензии GaN/SiC кои бараат висока термичка униформност.

Предности на цврстиот SiC:Монолитен β-SiC без интерфејс за обложување-подлога, без ризик од раслојување; чистотата може да достигне 5N–7N, извонредна отпорност на ерозија на плазмата, погодна за критични делови за офорт како што се прстени за фокусирање и туш кабини, со животен век до 2000+ часа.

6. Компонента за управување со целосен животен циклус и вредност на чистење и регенерација

Основен заклучок:Од следење на инсталацијата и предупредување за аномалии до професионално чистење и регенерација, формирањето на управување со затворен циклус може значително да го намали TCO и да ја намали зачестеноста на набавките на нови делови. VeTek обезбедува посветени услуги за чистење на Aixtron/Veeco и друга опрема.

Многу фабрики ги третираат обложените делови како потрошен материјал за „користење и фрлање“. Во реалноста, по професионалното чистење и регенерација, значителен дел од компонентите може да се вратат на нивоа на честички и термички перформанси блиску до новите делови, особено сензорите и прстените за претходно загревање за платформите Aixtron и Veeco.

Се препорачува да се воспостави едноставен дневник на животниот циклус: рекордно време на инсталација, кумулативни работни часови, состојба на површината по секое чистење и резултати од тестот за честички. Само кога облогата покажува очигледно пожолтување, локална разложеност или постојано надминување на честичките треба да се активира одлуката за замена, наместо предвремено отфрлање врз основа на чувството.


Слика 4 – Служба за чистење на делови од графитни облоги со CVD SiC

7. Точки за евалуација на добавувачи и можности за услуга на VeTek

Основен заклучок:Фокусирајте се на системот ISO9001, комплетните извештаи за инспекција (GDMS/ICP-OES), поддршката за примероци, доверливоста во времето на извршување и способноста за техничка комуникација на англиски јазик. VeTek има 24/7 поддршка и искуство со услуги за клиенти во странство.

За меѓународни клиенти или фабрики со строги барања за квалификација на добавувачите, следниве точки се особено критични:

• Систем за квалитет: ISO9001, процес контролиран и може да се следи.

• Способност за инспекција: Обезбедете комплетни извештаи за анализа на материјалот за облогата и подлогата.

• Примероци и време: Поддршка за евалуација на примерокот; стандардните производи се испорачуваат брзо, прилагодените делови обично 3-6 недели, итните нарачки може да се забрзаат по преговори.

• Техничка комуникација: И тимовите за продажба и инженерството можат течно да комуницираат на англиски јазик, намалувајќи ги трошоците за комуникација за клиентите во странство.

• Одговор по продажбата: Обезбедете техничка поддршка и помош за анализа на дефекти кога облогата или компонентите покажуваат аномалии.


Слика 5 – Целосен процес на нарачка на производи на VeTek

8. Најчесто поставувани прашања

(1). Дали производот поддржува целосно прилагодување врз основа на цртежи? Со која главна опрема може да одговара?

Да. Може да го прилагоди сензорот, прстенот за претходно загревање, прстенот за пренасочување, полумесечината, прстенот за фокусирање итн., компатибилен со платформи како Aixtron G10, Veeco, ASM, AMEC, TEL.

(2). Како се гарантира чистотата? На кое ниво се контролираат металните нечистотии?

Чистотата на облогата и компонентите може да биде помала од 5 ppm, некои достигнуваат 99,99995%. ICP-OES, GDMS и друга опрема се користат за анализа на траги, со обезбедени целосни извештаи.

(3). Што е со униформноста на дебелината и работниот век на CVD SiC/TaC облогите?

Еднообразноста на дебелината обично се контролира во рамките на ± 5%, дебелина од 100-200 μm. Под соодветни процесни прозорци, животниот век на сензорот GaN MOCVD може да достигне опсег од 500–1000 часа; Сценаријата со ултра високи температури бараат префрлување на TaC или Solid SiC.

(4). Дали е поддржано тестирање на примерокот? Кое е типичното време за нарачки на големо?

Евалуацијата на примерокот е поддржана. Стандардните производи може да се испорачаат брзо; прилагодените делови обично траат 3-6 недели, во зависност од сложеноста и обемот на дизајнот. Итните нарачки може да се забрзаат по преговарање.

(5). Кои сертификати за системот за квалитет се достапни? Дали може да се обезбедат извештаи за инспекција и поддршка по продажбата?

Воспоставен е системот за управување со квалитет ISO9001. Може да се обезбедат извештаи за анализа на материјали и облоги, заедно со 24/7 онлајн техничка поддршка. Англиската комуникација за клиентите во странство е беспрекорна.

9. Резиме и следните чекори

Изборот никогаш не е за „избор на најскапиот“ или „избор на најдебелиот“, туку за „пронаоѓање на решение со најдобра рамнотежа на перформансите и трошоците според вашата опрема, прозорецот на процесот и буџетот за честички“. Се надеваме дека овој прирачник ќе ви помогне брзо да воспоставите рамка за одлучување: прво погледнете ги температурата и атмосферата, потоа усогласете ја облогата или цврстиот SiC и на крајот валидирајте ги работниот век и перформансите на честичките со податоци.

Ако оценувате решенија за замена за сензори, прстени за предзагревање или компоненти за топла зона на Aixtron, Veeco или други платформи, добредојдени сте директно да го контактирате техничкиот тим на VeTek. Можеме да обезбедиме препораки за прилагодување, поддршка за примероци и комплетни извештаи за инспекција врз основа на вашите цртежи или постоечки резервни делови. Д-р Xiao и инженерскиот тим се подготвени да разговараат со вас за оптимизација на термичкото поле или посебни потреби за развој на структурата во секое време.

За детали за производот и повеќе технички информации, ве молимеконтактирајте со нас.


Главни референци и извори на податоци

1. Внатрешни инженерски податоци на VeTek Semiconductor — работен век на графитниот чувствител обложен со SiC од 500–1000 часа под процесот GaN MOCVD, приносот на облогата се подобри од 50% до 90% по решавањето на пожолтувањето на рабовите и други практични случаи [1].

2. T/CASME 2000-2025 Техничка спецификација за чувствителни графитни обложени силициум карбид за полупроводничка епитаксија — Ги одредува техничките барања за чувствителни графитни обложени со SiC подготвени со CVD процес на изостатски графитни супстрати со висока чистота, применливи за sepitaxmi.

3. T/CASME 2085-2025 Техничка спецификација за производи обложени со тантал карбид за раст на кристали со силициум карбид — Техничка спецификација за графитни производи обложени со TaC во сценарија за раст на кристалите SiC.

4. Nakamura et al., „Синтерувани тантал карбидни облоги на графитни подлоги: Високо сигурни заштитни облоги за рефус и епитаксијален раст“, ​​Applied Physics Letters, Vol. 106, 082108, 2015. — Потврдува дека TaC облогите можат ефикасно да ги заштитат графитните подлоги под висока температура (>2000°C) и силно корозивни атмосфери, формирајќи јасна граница на перформанси со SiC премази.

5. Wang et al., „Ефектите на карбонизираниот тампон слој врз растот на SiC на Si“, Journal of Crystal Growth, Vol. 199, стр. 564-567, 1999. - Разговара за ефектите на тампон слојот и контролата на површинската морфологија во процесот на раст на SiC CVD, индексирани од Scopus и Web of Science.

Забелешка: Податоците за животниот век и перформансите во текстот се типични референтни вредности. Вистинските перформанси се под влијание на специфичните услови на процесот, статусот на опремата и нивото на одржување. Ве молиме потврдете со вистински мерења.


Автор:VeTek Semiconductor Technical Engineering Team (завршен под водство на д-р Xiao)

За понатамошна техничка дискусија или евалуација на примерокот, ве молиме контактирајте не преку официјалната веб-страница.

X
Ние користиме колачиња за да ви понудиме подобро искуство во прелистувањето, да го анализираме сообраќајот на страницата и да ја персонализираме содржината. Со користење на оваа страница, вие се согласувате со нашата употреба на колачиња. Политика за приватност
ОтфрлиПрифати